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| PCIM Asia 2023開展ing！來現場交個“芯”朋友？ |
| 作者：admin 來源：原創 發布日期：2023-8-29 13:58:24 點擊次數:251 |
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2023年PCIM Asia國際電力元件、可再生能源管理展覽會已于2023年8月29日，在上海新國際博覽中心正式開幕！
展會介紹 • 專注電力電子領域的國際展覽會及研討會之一，立足行業二十余載 • 展示電力電子、智能運動、可再生能源及能源管理前沿技術產品及案例分享 • 國際研討會發表國內外最新學術成果，深入探討電力電子行業技術發展趨勢 • 多個主題專區聚焦電力電子關鍵應用領域的解決方案 泰克攜重量級半導體參數測試系統及模擬芯片全棧式測試解決方案亮相PCIM Asia 2023，誠邀各位工程師來現場交個“芯”朋友，助您更懂您的“芯”~ 重量級半導體參數測試系統繼慕尼黑電子展后再度亮相！ 半導體功率器件動態特性測試系統 DPT1000A功率器件動態測試系統由泰克科技領銜開發，專門用于針對三代半導體功率器件的動態特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態特性表征中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發設計和試產階段，快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產品性能。 系統主要特點 ▪ 定制化系統設計 , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅動電路 ▪ 自動化測試軟件，測試功能豐富 , 可以自動配置參數，測試和生成數據報告 ▪ 高帶寬/高分辨率測試設備 , 在高速開關條件下準確表征功率器件 ▪ 覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類型，不同封裝芯片測試 ▪ 可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復、Qg、短路測試、雪崩參數、RBSOA等測試功能 動靜態綜合老化測試系統 ▪ HTXB-1000D動靜態綜合老化測試系統針對以 SiC/GaN 為首的新型三代半導體功率器件，根據其特有的器件結構和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件 ( 包括靜態壓力和動態壓力 )，用以測試功率器件器件的漏流指標，以及其他典型特性參數 ( 例如閾值開啟電壓，導通電阻等關鍵指標 )，以表征器件的老化特性和工作壽命�？梢宰屍骷a廠商和器件使用者在較短時間內了解新型功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應用過程中可能出現的故障進行預判和分析。 ▪ 該動靜態壓力綜合老化測試系統用于批量 SiC/GaN器件老化測試，通過測試數據可以研究SiC/GaN器件的典型參數在不同壓力條件下的變化特性，幫助客戶了解器件可靠性相關信息并表征老化特性。 模擬芯片流程全棧式測試方案 芯片從晶圓到封裝為終端客戶使用的過程中，不同職能工程師會在各個階段進行不同的測試，確保產品的安全性，穩定性和可靠性。泰克科技致力于提供卓越的測試解決方案助力模擬芯片全流程的測試測量需求。 隔離驅動芯片測試 時序及抖動測試 CMTI測試 DC-DC芯片測試 包括多相均流時序驗證、極小紋波時頻域驗證、電源抑制比驗證（PSRR）、PSIJ等。 電源抑制比驗證（PSRR） AC-DC芯片測試 電驅及逆變測試 更多芯片測試方案待您解鎖， 期待您蒞臨現場技術交流！ |
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