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        當前位置: 首頁 > 示波器 > 數字采樣示波器詳細信息
        DSA8300數字采樣示波器
        作者:admin    來源:原創    發布日期:2013-10-10 16:07:37   點擊次數:1658

        DSA8300 是一款等效時間取樣示波器,為通信信號分析、串行數據網絡分析以及串行數據鏈路分析應用提供保真測量和分析功能。

        關鍵性能指標
        • 超低時基抖動:
          • 在同時采集的最多 8 條通道上,典型值為 425 fs
          • 使用 82A04B 相位參考模塊時,在最多 6 條通道上 <100 fs
        • 垂直分辨率 – 16 位模數轉換器
        • 電接口分辨率: <20 μV LSB(適用于 1 V 全量程)
        • 光接口分辨率從 80C07B(1 mW 全量程)的 <20 nW 到 80C10C(30 mW 全量程)的 <0.6 µW
        • >80 GHz 的光接口帶寬
        • 電接口帶寬 >70 GHz
        • 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能
        • 80 多種行業標準模板,自動進行模板測試
        主要功能
        • 通過當前取樣模塊系列,DSA8300 支持同時采集最多 8 個信號
        • 多種光接口、電接口和附件模塊,滿足您的特定測試要求
        • 光接口模塊
          • 全面集成光接口模塊,支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有標準光接口數據速率
          • 經過認證的光接口參考接收機,支持標準規定必須進行的一致性測試指定的要求
          • >80 GHz 的光接口帶寬
          • 光接口取樣模塊提供了高光學靈敏度、低噪聲及寬動態范圍,可以準確地測試和檢定短程到遠程光接口通信標準
          • 經過全面校準的時鐘恢復解決方案 – 不需要手動校準數據撿拾損耗
          • 經過校準的消光比測量,在采用這一出廠校準選項模塊時,系統間消光比測量可靠性 <0.5 dB
        • 電接口模塊
          • 超低噪聲電接口取樣器(20 Ghz 時為 280 μV,60 Ghz 時為 450 μV,典型值)
          • 可以選擇帶寬1允許用戶用取樣器帶寬和噪聲換取最優的數據采集性能
          • 遠程取樣器2或緊湊的取樣擴展模塊電纜,取樣器可以放在被測器件附近,使信號劣化達到最小
          • 世界上性能最高的集成 TDR(10 ps 典型階躍上升時間),高效檢定阻抗不連續點,高動態范圍,執行高達 50 Ghz 的 S 參數測量
        • 分析
          • 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了一套完整的超過 120 種自動測量功能
          • 80 多種行業標準模板,自動進行模板測試。 新模板可以導入到 DSA8300 中,支持新出現的標準。 此外,用戶可以為自動模板測試定義自己的模板
          • 垂直直方圖和水平直方圖,對波形進行統計分析
          • 垂直光標、水平光標和波形光標(帶測量數據)
          • 通過 80SJNB 基本和高級應用軟件選項提供抖動、噪聲、BER 和串行數據鏈路分析
          • 通過 IConnect® 應用軟件選項提供高級 TDR 分析、S 參數測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能
        • 高測試吞吐量
          • 每條通道高達 300 kS/s 的取樣采集速率
          • 高效編程接口(IEEE-488、以太網或本地處理器接入)實現高測試吞吐量

        1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模塊。

        2 僅適用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

        應用
        • 設計/檢驗電信和數據通信器件和系統
        • ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/一致性測試
        • 高性能真正差分 TDR 測量
        • 串行數據應用阻抗檢定和網絡分析,包括 S 參數
        • 高級抖動、噪聲和 BER 分析
        • 通道和眼圖仿真及基于測量的 SPICE 模型

        杰出的性能,優異的通用性

        DSA8300 數字串行分析儀為開發和測試采用幾千兆位數據傳輸技術的通信、計算機和消費電子提供了用途廣泛的工具。 它可以用來對這些產品中使用的器件、模塊和系統的光接口和電接口發射機進行檢定及一致性測試檢驗。



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